摘要

《电子信息产品污染控制管理办法》第三条定义术语第一款给出了电子信息产品的定义，定义中的电子信息产品共十大类，界定了《管理办法》的适用范围。为了帮助所有关注《管理办法》的人士了解其中的电子信息产品的定义含意，现根据我部统计电子信息产业经济指标所用的《电子信息产业行业分类》，对适用《管理办法》的电子信息产品分类注释如下：

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为了帮助广大电子信息企业和关注电子信息产品污染防治工作的人士学习、理解《电子信息产品污染控制管理办法》，我们尝试就一些大家提出的主要问题进行了解答，仅供参考。

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技术指标: 分 析 范 围: 1PPM-99.99% 同 时 分 析: 几十种元素同时分析 测镀层厚度精确至0.01微米 测 量 对 象: 固体、粉未、液体 测 量 时 间: 60-300 秒 测 量 精 度 : 0.05% 分 析 元 素: Na-U 工 作 温 度: 15-26℃ 相 对 湿 度: ≤70% 重 量 : 80KG 功 耗: 200瓦

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技术指标： 分析范围：10%~99.99% 测量元素：金、银、铂、铜、锌、等60多种元素 工作温度：15---30℃ 重 量：30KG 电 源：AC 110V/220V 测量时间：60~300秒 测量精度：0.05% 配 置： 单样品腔 计算机、喷墨打印机 硅针半导体探测器（美国产） 放大电路（美国产） 高低压电源：（国产） X光管（国产）

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技术指标： 分 析 范 围: 1PPM-99.99% 同 时 分 析: 几十种元素同时分析 测镀层厚度精确至0.01微米 测 量 对 象: 固体、粉未、液体 测 量 时 间: 60-300 秒 测 量 精 度 : 0.05% 分 析 元 素: Na-U 工 作 温 度: 15-26℃ 相 对 湿 度: ≤70% 重 量 : 100KG 功 耗: 200瓦 配 置： 多样自动进样系统 计算机、喷墨打印机 真空泵（可选） 压片机（可选） 硅针半导体探测器 放大电路 高低压电源 X光管

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通过问答形式，解决客户在做ROHS检测过程中遇到的产品技术问题和相关ROHS法律法规问题！ 同时，本手册也向客户提出如何选择ROHS检测设备等参考建议或意见！

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针对RoHS检测设计开发 测量贵金属如金、银、铂等效果甚佳 分析测量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br 也可以测量镀层厚度 ROHS指令检测主要技术指标 ※. 分析精度：0.05% ※. 样品室尺寸：1000*1000*300MM ※. 测量时间：60-300秒 ※. 工作电源：220U±5U ※. 高 压：15-50KV ※. 管 流：600μA ※. 计数率：1300-8000Cps ※. ROHS指令有害元素仪检出限Cd/Pb/Cr/Hg/Br为1PPM ※. 检测时间为200秒 ※. 电致冷硅针半导体探测器 ※. 加强金属元素感度分析 仪器基本配置 ※.单样品腔 ※.计算机、喷墨打印机 ※.硅针半导体探测器 ※.硅针半导体探测器 ※.放大电路 ※.高低压电源 ※.X光管 ※.无真空腔体

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高精密定位测量系统，用于RoHS检测和镀层检测。在镀层检测中，该款仪器可以惊奇地逐点测试被测对象，并给出完整的含量和镀层的平面分析图谱。 一、技术指标: 分析精度: 0.05% 分析含量范围：1PPM-99.99% 测量元素：从硫至铀等75种元素 测量对象：粉末、固体、液体 分析电镀溶液中金属离子浓度 可分析10层以上的镀层 测试镀层最薄至0.005um 步进最小距离：0.01mm 测量时间：60~300秒 工作温度：15~30°C 相对湿度：< 70% 重量：30KG 工作电压：AC 110/220V 二、配 置： 单样品腔计 算机、喷墨打印机 硅针半导体探测器 放大电路 高低压电源 X光管 双激光定位系统 50至100倍物体放大

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专门为RoHS检测推出的新款仪器 在EDX3000B的基础上，增加了准直器和滤光片自动切换功能，使仪器更具智能化，人性化 技术指标 分析元素：从硫到铀 分析精度：1ppm-99.99%，ROHS规定的有害元素（限Cd/Pb/Cr/Hg/Br）检测限最高达1ppm。 能量分辨率：165±5V 高 压：5-50kv 管 流：50-1000μA 适用温度：15-30℃ 自动滤光片选择 多种准直器自动自由切换 加强金属元素感度分析器 三维自由度超大的样品腔设计，样品腔尺寸：1000*1000*100mm 三重安全保护模式 相互独立的基体效应校正模型 多变量非线性回归程序 任意多个可选择的分析和识别模型 一次可同时分析24个元素 电 源：交流220v±5v

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一、技术指标: 测量精度：0.05% 分析范围：1PPM~99.99% 测试镀层最薄至0.005um 测量元素：从硫至铀等75多种元素 测量对象：粉末、固体、液体 工作温度：15---30℃ 相对湿度：< 70% 重 量：30公斤 电 源：AC 110V/220V 测量时间：60~300秒 二、仪器配置： 单样品腔 计算机、喷墨打印机 硅针半导体探测器 放大电路 高低压电源 X光管

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技术指标: 分析范围 :1PPM---99.99% 测量时间 :60---300 秒 分析精度 :0.1%---99.99% 测量范围 :Au、Ag、Cu、Zn、Ni、Pd、Rh、Cd、Ru 、Pt 测镀层厚度、精度：0.03um 重 量 :30KG 尺 寸 :350*500*400mm X射线源 :X射线光管。 探测器 :正比计数管 仪 器 配 置： 单样品腔 正比计数器 放大电路 高低压电源 X光管

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专为RoHS 测试而开发的 是Skyray2006推出的又一记重磅炸弹。继EDX3000B风靡整个行业之后，其另一有力搭档, 全球体积最小，重量最轻的EDX-Pocket-I应运而生。 流线型的外形，带给您全新的视觉冲击；高贵大方的色彩，尽显尊贵与稳重的独特魅力； 精巧的内核，真正实现科技的浓缩之美；严谨的保护装置，实现安全的防火墙；小巧轻便， 将人性化理念落实入微。 技术指标: 型号：EDX-Pocket-I 手持式X荧光光谱仪 检测对象：各种材料中的(Pb、Hg、Br、Cd、Cr) 激发源：40KV-银靶微型X光管 X射线光束直径：6 mm 检测时间：一般检测时间为10-200秒 检测范围：钾到铀之间所有元素,包括RoHS 指令（Cr Br Pb Hg Cd） 检测下限：以塑料样品为例 Cd：15 ppm ；Pb，Hg：10 ppm； Br：10 ppm ；Cr：30 ppm 校正方式：欧盟RoHS塑胶标样，校正数据 安全性：自带密码管理员模，数据可随意保存 Data 使用性：可在PDA内进行编辑，可导入PC机进行保存打印，配备海量存储卡 充电后一次可使用时间：充电正常使用时间为2小时 仪器重量：1.47 Kg （配备HP iPAQ 3715 及电池） 1.2 Kg （无HP iPAQ 3715 及电池）

摘要

内置高清晰摄象头,方便用户随时监测样品. 独特的光路增强系统,方便用户更好地观察样品. 特别开发的RoHS测量软件,操作界面十分友好. 可选的准直器系列,分别针对不同大小的样品. 超大样品腔,对样品尺寸无限制. 精准的移动平台,更精确方便地调节样品位置. 半导体硅片电制冷系统,摈弃液氮制冷. 测量RoHS,电镀镀层,全元素分析,一机多用.