天瑞仪器超大行程X荧光膜厚测试仪EDX-PCB

EDX-PCB是一款专门用于测量大型PCB板、箱体以及晶圆的超大行程上照式X荧光测厚仪，搭配图纸输入系统以及外部图片输入，不仅能随心所欲的快速运动被测样品的任何区域，在微区摄像头的帮助下，也能极快的定位被测样品上极微小的测试点，完成快速编程与测试。

应用领域

PCB板 

大型箱体 

晶圆

性能优势

1 超大开放式样品腔搭配全自动超精密大行程平台，XY移动范围：600mm×400mm。

2 可外部输入被测板材的图片或搭配外摄全景摄像头。

3 搭配多种不同规格尺寸的准直器，可对应不同的测试场景。

4 高达140mm的Z轴移动范围配合可变焦补正系统，可应对各种凹槽异型件。

5 配备70mm²超大探测窗口，相比常规探测器，不仅分辨率更高，计数率也显著增强，能为超小测试点提供更稳定的测试效果。